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  • 散射式近場光學(xué)顯微鏡
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  • 散射式近場光學(xué)顯微鏡

    s-SNOM,散射式近場光學(xué)顯微鏡,是一種在納米尺度上進行光-物質(zhì)相互作用的通用型探針,是一種用于繪制復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)和具有納米尺度空間分辨率材料現(xiàn)象的強大技術(shù)。

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商品描述

s-SNOM,散射式近場光學(xué)顯微鏡,是一種在納米尺度上進行光-物質(zhì)相互作用的通用型探針,是一種用于繪制復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)和具有納米尺度空間分辨率材料現(xiàn)象的強大技術(shù)。


    s-SNOM技術(shù)使用金屬鍍層的原子力(AFM)探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強樣品的納米尺度區(qū)域的散射,散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米級區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言,這些散射光的信息包括光的振幅和相位,通過適當?shù)哪P停@些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)(n,k)。在某些情況下,光學(xué)相位與波長還提供了一個與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息。   

    瑞宇科技的散射式近場光學(xué)顯微鏡建立在基于具有先進地位的納米光學(xué)表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎(chǔ)之上。s-SNOM設(shè)計具有非常優(yōu)秀的性能,高度集成,全面自動化,使用靈活,為研究生產(chǎn)力和易用性設(shè)定了新的標準。

    瑞宇科技的散射式近場光學(xué)顯微鏡特別適用于硬質(zhì)材料,特別是具有高反射率、高介電常數(shù)或強光學(xué)共振的材料。它與瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡(NanoIR)配合使用,可以完成對所有物質(zhì)納米尺度的化學(xué)性質(zhì)分析及探索。

    瑞宇科技的散射式近場光學(xué)顯微鏡的分辨率僅由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定,與入射光源的波長無關(guān),能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi),提供最佳10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。

 

產(chǎn)品特點:


? 10nm空間分辨率近場成像和光譜;

? 特別的快速成像和采譜技術(shù),10倍于傳統(tǒng)的空間光譜成像;

? 特別的背景壓制技術(shù)和高效光學(xué)信號收集技術(shù),確保在10nm空間分辨率下仍然保持極高的信噪比;

? 預(yù)先校準光路,操作極其簡便;

? 模塊化設(shè)計,可拓展性強;

 

產(chǎn)品參數(shù):


成像波段:900~2000cm-1,2235~3600cm-1


空間分辨率:10~100nm

 

應(yīng)用:

        由于瑞宇科技的散射式近場光學(xué)顯微鏡和光譜譜圖的可靠性和可重復(fù)性,s-SNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點研究方向的優(yōu)先選擇科研設(shè)備,廣泛適用于各種無機物和有機物,如表面等離子體、納米天線、2D材料(石墨烯,BN),納米結(jié)構(gòu),半導(dǎo)體,絕緣體,生命科學(xué),高分子材料等,在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到許多重要科研成果。

       

      石墨烯等離子體的s-SNOM相位和振幅圖像(上—相位圖像三維視圖;左—相位和SPP駐波線橫截面;右—s-SNOM振幅圖)

       

      光學(xué)近場顯微鏡的光譜和成像。(上—波長相關(guān)的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì);下左—共振(1659cm-1)的s-SNOM相位圖像;下右—非共振(1605cm-1)的s-SNOM相位圖像)

 

      

      s-SNOM圖像顯示了棒狀天線上的偶極子散射。(上—覆蓋在形貌圖上的s-SNOM圖像;下左—AFM圖像;下右—s-SNOM圖像)

 

      

      紫外膜的s-SNOM測量揭示了蛋白質(zhì)在脂質(zhì)膜內(nèi)的分布。(上—AFM高度圖;下左—當紅外激光源調(diào)諧到酰胺I吸收帶產(chǎn)生共振時(1667cm-1)s-SNOM相位圖像;下右—非共振時(1618cm-1)s-SNOM相位圖像)


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